微型真空探針臺是一種用于研究表面物理性質和材料表面相互作用的儀器。它具有高真空環(huán)境、穩(wěn)定的探針位置和準確的探針控制能力，廣泛應用于材料科學、納米技術、表面化學等領域的研究。微型真空探針臺的工作原理是通過在真空環(huán)境中將探針與樣品表面接觸，通過控制探針的位置和施加外部力來研究材料的表面性質。它可以實現(xiàn)對樣品表面的原子尺度的準確操控，使得研究人員可以觀察到材料在不同條件下的變化和相互作用過程。在材料科學領域，被廣泛應用于研究材料的表面形貌、結構、機械性能等性質。例如，研究人員可以利...

根據(jù)《關于2024年勞動節(jié)假期安排的通知》精神，結合我司實際，現(xiàn)將2024年勞動節(jié)放假安排通知如下：一、4月27日（周六）正常上班，下午4點下班4月28日（周日）正常上班；二、5月11日（周六）正常上班5月12日（周日）休息5月1日—5月5日，放假調(diào)休，共5天未盡事宜，另行通知。謝謝！放假期間，請大家必須要注意人身安全。最終衷心祝愿大家過個歡樂的五一假日！!

手動探針臺的主體框架通常由堅固的金屬材料制成，具有較強的穩(wěn)定性和耐用性。探針支架是用來裝載探針的部分，可以在水平方向和垂直方向上進行微小的移動和調(diào)整，以便實驗人員可以對探針的位置進行精確控制。樣品臺通常位于探針支架的下方，用于放置待測樣品，實驗人員可以通過探針臺上的控制裝置來控制樣品的旋轉、移動等操作。控制裝置通常是一種微調(diào)裝置，可以通過旋轉或平移來控制探針的位置和角度，從而實現(xiàn)對樣品的準確定位。使用手動探針臺進行實驗操作時，實驗人員需要注意以下幾點：首先，要確保探針的位置和...

探針臺是一種用于實驗室中的微操作器的裝置，它可以幫助實驗人員在觀察、操作和控制微操作器時更加方便和準確。手動探針臺是其中一種類型，它通常由主體框架、探針支架、樣品臺和控制裝置四個部分組成。其原理是通過手動控制探針位置，將探針頭接觸到芯片上的測試點，從而進行電氣信號的測試和調(diào)試。通常包括一個平臺、探針夾持器和微調(diào)裝置。手動探針臺的應用包括：1.半導體芯片測試：可用于測試芯片的電氣特性，包括電壓、電流、頻率等參數(shù)。2.芯片調(diào)試：在芯片設計和制造過程中，可用于調(diào)試芯片電路，查找潛在...

鄭州科探新產(chǎn)品發(fā)布-開斷放電實驗裝置這款高壓開關斷路器滅弧實驗裝置采用不銹鋼腔體設計，確保了設備的穩(wěn)定性和耐用性。其最大允許壓力達到了0.3MPa，同時能夠承受高達50KV的最大電壓，足以滿足高壓電路斷開實驗的需求。該實驗裝置具備可更換的電極設計，使得用戶能夠根據(jù)不同實驗需求選擇合適的電極，實現(xiàn)了對實驗參數(shù)的靈活調(diào)整。此外，配備了電控推拉桿，可控的斷開速度，使得實驗過程更加精準和可控。推桿行程為140mm，為用戶提供了更加多樣化的實驗選擇。該裝置還配備了前后透明窗口，方便用戶...

一英寸探針臺重大升級近期公司推出新品一英寸探針臺，針對老產(chǎn)品持續(xù)優(yōu)化1、滑塊精度提高，控制更加精確，操作方便2、顯微鏡支架升級為一體，使用面包板，使得更加牢固，3、增加316球閥進氣口，耐腐蝕，不漏氣4、溫度提高了pid參數(shù)，精度從±0.1升級到±0.5，更度更高，測試結果更加準確5、探針升級，絕緣優(yōu)化，性能穩(wěn)定,探針間不易發(fā)生短路,提高了PCB測試的可靠性

半導體制冷臺的工作過程可以分為四個主要階段：起始階段、正向運行階段、穩(wěn)態(tài)工作階段和反向運行階段。在起始階段，冷端的溫度較高，熱端的溫度較低。然而，由于這兩端之間的溫度差異不足以產(chǎn)生足夠的電壓差，導致無法維持制冷效果。因此，此階段需要其他制冷設備或方法進行預冷。在正向運行階段，冷端的溫度下降，熱端的溫度上升，電流流經(jīng)熱電堆，產(chǎn)生一定的制冷效果。溫度差異逐漸加大。在穩(wěn)態(tài)工作階段，冷端達到了所需的溫度，并且熱端的溫度也相應達到了一定的高溫，設備可以長時間維持制冷狀態(tài)。在反向運行階段...

近期我司新推出了顯微鏡支架產(chǎn)品，設計簡單、功能齊全，是一種降低成本的新型支架。平滑的水平移動非常適合大范圍觀察。作為機器或設備的光學設定規(guī)，顯微鏡可以從磁性固定位置水平滑動以進行觀察。此外，一旦觀看完畢，該裝置可以輕松返回到原來的位置，不妨礙工作。定位銷和限位器功能考慮了重復運動的再現(xiàn)性。這是一個方便使用的支架探針臺顯微鏡支架是探針臺的一部分，它支撐并固定顯微鏡，使顯微鏡能夠進行精密操作。該支架有以下主要功能：穩(wěn)定性：為顯微鏡提供穩(wěn)定的支撐，確保在測試過程中顯微鏡不會發(fā)生移動...